2007年12月28日
産学連携製造中核人材育成事業に係る平成19年度「半導体デバイスの評価・テスト・解析技術」実証講座（座学）を実施しました。
日時：
平成19年12月1日(土)
9:00～16:00
内容：
半導体評価･テスト･解析の重要
性、 テスト設計、装置、及び
構造解析（座学）
場所：大分県産業科学技術センター
（大分市高江西1-4361-10）
講師：
大分大学教授 益子洋治氏
九州工業大学 教授 温暁青氏
(株)エリア 筒井信明氏
講座概要：
・半導体デバイスの評価・テスト・
解析技術をより実践的に学ぶ。
・基本的なテスト設計の考え方を、
製品規格を例として学ぶ。
・(実習)Excelワークブック環境で
プログラミングできる実機テスタ
を使い、操作、テストプログラム
等の理解を深める。
受講料：無料
受講者数：11名（定員12名）
※参考
・半導体テスト実習
（募集：各コース4 名）
半導体テスト技術の実習、及び
データ処理
Aコース:平成19年12月08日(土)
Bコース:平成19年12月15日(土)
Cコース:平成19年12月22日(土)
[問合先]
(株)エリアLSI テストシステム
ラボラトリー（藤原ラボ）
中核人材育成事業担当 小坂
〒879-1502 大分県速見郡日出町
大字藤原2421 番地
TEL (0977)72-9967
FAX (0977)72-9968
