2010/2/1:半導体テスト技術交流会開催

2010年2月2日

日時　平成22年2月1日（月）
　　　13:30～16:45
場所　全労済「ソレイユ」
　　　7F アイリス
テーマ1:
パーソナルテスターソリューションによるテスト開発/評価の効率化
講師:
エスティケイテクノロジー（株）
電気計測事業本部開発部
主任技術員　笹島　輝幸氏

テーマ2:
テスターの最新動向と
　　　　　テスト技術の進展
講師:
（株）東芝セミコンダクター社
システムLSI設計技術部
参事　小田代　佳哲氏

参加者　15社　55名