2010年3月23日
（添付資料1）
Ⅰ．LSIテスティングシンポジウム調査
・知見のテーマ(調査項目)
LSIのテスティング技術、設計、プロセス、テストおよび設計・製造・テスト装置新技術、研究内容の調査、ＬＳＩテスティングシンポジューム参画企業の技術調査、テストデータ・評価データ解析方法の調査を実施した。
・実施した知見収集の方法
○LSIテスティングシンポジウム参加
開催日：２００９年１１月１１～１３日
場 所：大阪千里ライフサイエンスセンター
担当者：株式会社エリア 仲町 茂
（添付資料2）
Ⅱ．ＭＡＰ２００９調査
・知見のテーマ(調査項目)
アジア半導体関連企業（その他の半導体企業も含む）の調査
・実施した知見収集の方法
ＭＡＰ２００９のシンポジュームに参加、アジア・九州の半導体企業・テスト関連企業の企業情報と技術情報を調査した。
開催日：２００９年１１月１１～１３日
場 所：福岡県シーホーク
担当者：株式会社エリア 樋口 嘉
（添付資料3）
Ⅲ．ＳＥＭＩＣＯＮ ＪＡＰＮ２００９調査
・知見のテーマ(調査項目)
１．低コストテスト技術
２．ＬＳＩテスター最新動向 の調査
・実施した知見収集の方法
ＳＥＭＩＣＯＮ ＪＡＰＡＮ ２００９へ参加
開催日：２００９年１２月２～４日
担当者：株式会社エリア 山田和秀
場 所：幕張メッセ
（添付資料4）
Ⅳ．専門書籍の購入
・知見のテーマ(調査項目)
１．ＬＳＩテスティング技術
２．ＬＳＩ故障解析
・実施した知見収集の方法
以下専門書籍を購入した。
①ＬＳＩテスティングハンドブック
②ＬＳＩ故障解析のすべて
以上
添付資料1(PDF) 添付資料2(PDF) 添付資料3(PDF) 添付資料4(PDF)
