2016年8月5日
テスト技術セミナー（テスト技術動向紹介）の開催
【日時】平成28年8月5日（金）13:30～17:00
【場所】大分県産業科学技術センター 第1研修室
【概要】
13:30 開会挨拶 グローバルイノベーション部会 樋口部会長
趣旨説明・講師紹介 大分大学工学部 准教授 大竹哲史 氏
【講演１】設計・テスト技術動向概観
【講師】九州工業大学 客員教授 佐藤康夫 氏
半導体のテスト技術を巡る業界や技術の動向について，ITRS（国際半導体技術ロードマップ）やITC（International Test Conference）等の調査から紹介し，今後の進むべき道を考える．
【講演２】ディジタルDFT関係
【講師】九州工業大学 客員教授 佐藤康夫 氏
半導体のテスト技術について，ロジックやSOCを中心に技術動向や着目技術を紹介．
【講演３】アナログテスタロードマップ
【講師】株式会社アドバンテスト 石田雅裕 氏
アドバンテストのアナログテスタを紹介し今後必要となる機能等について概説．
【講演４】DUT電源品質制御技術について
【講師】株式会社アドバンテスト 石田雅裕 氏
デバイステストにおける試験品質を向上するための電源品質制御技術について，最新の研究成果をまじえて紹介．
【交流会】19:00～
大竹氏 佐藤氏 石田氏
テスト技術セミナー会場の様子
【参加者数】
7社 2機関 29名
