2013年11月22日
大分県ＬＳＩクラスター形成推進会議会員の皆さまへ
研究開発専門部会
部会長 樋口 嘉
テスト技術セミナーのご案内
大分県ＬＳＩクラスター形成推進会議 研究開発専門部会では、下記のとおりテスト技術をキーとして、昨年度作成したロードマップのアップデート並びに、テスト技術の動向について技術セミナーを開催いたします。
関連会員企業の皆さまには、自社の立ち位置の確認や将来の研究開発に向けての指針としてご活用いただければ幸いです。また、新たなビジネスを模索している企業の皆さまにとって絶好の機会です。この機会を是非ご活用いただきますようお願いいたします。
参加を希望される場合は、添付の参加申込書に必要事項を記載の上、本メール宛て返信またはＦＡＸいただきますようお願い申し上げます。
【開催時期】平成25年12月20日（金）13:30～17:15
【開催場所】大分県産業科学技術センター 第1研修室
〒870-1117 大分市高江西1丁目4361-10
TEL 097-596-7100
【開催概要】
13:30-13:35 研究開発専門部会 樋口部会長挨拶
13:35-13:45 テストセミナーについて
大分大学工学部 准教授 大竹哲史 氏
県内企業のニーズとテスト技術セミナーの概説
13:45-14:35 【演題】ロードマップアップデート
【講師】九州工業大学 特任教授 佐藤康夫 氏
昨年度作成のロードマップからのアップデート、
ITC2013のホットトピックスなどを紹介する。
14:35-14:50 質疑応答
14:50-15:05 休憩
15:05-16:10 【演題】テスティング技術動向
【講師】大阪大学 教授 中前幸治 氏
ウェーハレベルプロービングの動向と、テスティング技術
を、特に１１月に開催された第３３回ナノテスティング
シンポジウム（旧：LSIテス ティングシンポジウム）にて
発表された関連するテスティング技術を紹介する。
15:55-16:10 質疑応答
16:10-17:00 【演題】オンチップ測定・高速アナログ試験技術
の課題と最新動向
【講師】アドバンテスト研究所 山口隆弘 氏、
VTS2013、ITC2013などで議論された高速I/O
試験課題やADC試験のホットトピックス、
さらに、あるUSファブレス会社の量産試験への
取組みを紹介する。ジッタ測定回路（JSSC，
Nov，2012）やオンチップ測定回路（ITC2011）
などの最新技術概要とその研究動機についても
説明する。
17:00-17:15 質疑応答
なお、セミナー終了後に大分市内で講師を囲んで交流会を開催いたします。奮ってご参加ください。(交流会費 : 4000円)
【 受講料 】無料
【申込〆切】12月13日(金)まで
【問い合わせ先／申込先】
大分県LSIクラスター形成推進会議 事務局 秋本、秋月
（大分県産業科学技術センター内）
〒870-1117 大分市高江西 1-4361-10
TEL/FAX: 097-596-7179
e-mail: oita-lsi@columbus.or.jp
添付資料１(Word)
